ESP32 中的单元测试¶

ESP-IDF 中附带了一个基于 Unity 的单元测试应用程序框架，且所有的单元测试用例分别保存在 ESP-IDF 仓库中每个组件的 test 子目录中。

添加常规测试用例¶

单元测试被添加在相应组件的 test 子目录中，测试用例写在 C 文件中，一个 C 文件可以包含多个测试用例。测试文件的名字要以 “test” 开头。

测试文件需要包含 unity.h 头文件，此外还需要包含待测试 C 模块需要的头文件。

测试用例需要通过 C 文件中特定的函数来添加，如下所示：

TEST_CASE("test name", "[module name]"
{
        // 在这里添加测试用例
}

第一个参数是字符串，用来描述当前测试。
第二个参数是字符串，用方括号中的标识符来表示，标识符用来对相关测试或具有特定属性的测试进行分组。

注解

没有必要在每个测试用例中使用 UNITY_BEGIN() 和 UNITY_END() 来声明主函数的区域， unity_platform.c 会自动调用 UNITY_BEGIN()，然后运行测试用例，最后调用 UNITY_END()。

test 子目录应包含：ref：组件 CMakeLists.txt <component-directories>，因为他们本身就是一种组件。ESP-IDF 使用了 unity 测试框架，需要将其指定为组件的依赖项。通常，组件：ref：需要手动指定待编译的源文件 <cmake-file-globbing>;但是，对于测试组件来说，这个要求被放宽为仅建议将参数 SRC_DIRS 用于 idf_component_register。

总的来说，test 子目录下最小的 CMakeLists.txt 文件可能如下所示:

idf_component_register(SRC_DIRS "."
                       INCLUDE_DIRS "."
                       REQUIRES unity)

更多关于如何在 Unity 下编写测试用例的信息，请查阅 http://www.throwtheswitch.org/unity 。

添加多设备测试用例¶

常规测试用例会在一个 DUT（Device Under Test，在试设备）上执行.但是，那些需要互相通信的组件（比如 GPIO、SPI）需要与其通信的其他设备，因此不能使用常规测试用例进行测试。多设备测试用例包括写入多个测试函数，并在多个 DUT 进行运行测试。

以下是一个多设备测试用例：

void gpio_master_test()
{
    gpio_config_t slave_config = {
            .pin_bit_mask = 1 << MASTER_GPIO_PIN,
            .mode = GPIO_MODE_INPUT,
    };
    gpio_config(&slave_config);
    unity_wait_for_signal("output high level");
    TEST_ASSERT(gpio_get_level(MASTER_GPIO_PIN) == 1);
}

void gpio_slave_test()
{
    gpio_config_t master_config = {
            .pin_bit_mask = 1 << SLAVE_GPIO_PIN,
            .mode = GPIO_MODE_OUTPUT,
    };
    gpio_config(&master_config);
    gpio_set_level(SLAVE_GPIO_PIN, 1);
    unity_send_signal("output high level");
}

TEST_CASE_MULTIPLE_DEVICES("gpio multiple devices test example", "[driver]", gpio_master_test, gpio_slave_test);

宏 TEST_CASE_MULTIPLE_DEVICES 用来声明多设备测试用例，

第一个参数指定测试用例的名字。
第二个参数是测试用例的描述。
从第三个参数开始，可以指定最多5个测试函数，每个函数都是单独运行在一个 DUT 上的测试入口点。

在不同的 DUT 上运行的测试用例，通常会要求它们之间进行同步。我们提供 unity_wait_for_signal 和 unity_send_signal 这两个函数来使用 UART 去支持同步操作。如上例中的场景，slave 应该在在 master 设置好 GPIO 电平后再去读取 GPIO 电平，DUT 的 UART 终端会打印提示信息，并要求用户进行交互。

DUT1（master）终端：

Waiting for signal: [output high level]!
Please press "Enter" key once any board send this signal.

DUT2（slave）终端：

Send signal: [output high level]!

一旦 DUT2 发送了该信号，您需要在 DUT1 的终端按回车键，然后 DUT1 会从 unity_wait_for_signal 函数中解除阻塞，并开始更改 GPIO 的电平。

添加多阶段测试用例¶

常规的测试用例无需重启就会结束（或者仅需要检查是否发生了重启），可有些时候我们想在某些特定类型的重启事件后运行指定的测试代码，例如，我们想在深度睡眠唤醒后检查复位的原因是否正确。首先我们需要出发深度睡眠复位事件，然后检查复位的原因。为了实现这一点，我们可以定义多阶段测试用例来将这些测试函数组合在一起。

static void trigger_deepsleep(void)
{
    esp_sleep_enable_timer_wakeup(2000);
    esp_deep_sleep_start();
}

void check_deepsleep_reset_reason()
{
    RESET_REASON reason = rtc_get_reset_reason(0);
    TEST_ASSERT(reason == DEEPSLEEP_RESET);
}

TEST_CASE_MULTIPLE_STAGES("reset reason check for deepsleep", "[esp32]", trigger_deepsleep, check_deepsleep_reset_reason);

多阶段测试用例向用户呈现了一组测试函数，它需要用户进行交互（选择用例并选择不同的阶段）来运行。

应用于不同芯片的单元测试¶

某些测试（尤其与硬件相关的）无法在所有的芯片上执行。请参照本节让你的单元测试只在其中一部分芯片上执行。

使用宏 !(TEMPORARY_)DISABLED_FOR_TARGETS() 保护你的测试代码，并将其放于原来的位置，或者放在另外准备以功能区分的文件。但请确保所有这些文件都会被编译器处理到。例：
```
#if !TEMPORARY_DISABLED_FOR_TARGETS(ESP32, ESP8266) TEST_CASE("a test that is not ready for esp32 and esp8266 yet", "[]")
{
}
#endif //!TEMPORARY_DISABLED_FOR_TARGETS(ESP32, ESP8266)
```
一旦你需要其中一个测试在某个芯片上被编译，只需要修改禁止的芯片列表。我们更鼓励使用一些通用的概念（能在 soc_caps.h 中被清楚描述）来禁止某些单元测试。如果你已经这样做，但有一些测试还没有在新的芯片版本中被调试通过，请同时使用上述两种方法，当调试完成后再移除 !(TEMPORARY_)DISABLED_FOR_TARGETS() 。例：
```
#if SOC_SDIO_SLAVE_SUPPORTED
#if !TEMPORARY_DISABLED_FOR_TARGETS(ESP64)
TEST_CASE("a sdio slave tests that is not ready for esp64 yet", "[sdio_slave]")
{
    //available for esp32 now, and will be available for esp64 in the future
}
#endif //!TEMPORARY_DISABLED_FOR_TARGETS(ESP64)
#endif //SOC_SDIO_SLAVE_SUPPORTED
```
对于某些你绝对肯定不可能被支持的测试（例如，芯片根本没有该外设），使用 DISABLED_FOR_TARGETS 来禁止该测试；对于其他只是临时性需要关闭的（例如，没有 runner 资源等），使用 TEMPORARY_DISABLED_FOR_TARGETS 来暂时关闭该测试。

请勿继续使用一些旧的禁止单元测试在一些芯片上执行的做法，因为他们具有明显的坏处：

请勿将测试代码放在 test/芯片版本 目录下面，然后用 CMakeLists.txt 来选择其中一个进行编译。这是因为测试代码比实现代码更容易被复用。如果你将一些代码放在 test/esp32 目录下来避免 esp32s2 芯片执行它，一旦你需要在新的芯片（比如 esp32s3 ）中启用该测试，你会发现这种结构非常难以保持代码的整洁。
请勿继续使用 CONFIG_IDF_TARGET_xxx 宏来禁止某些测试在一些芯片上编译。这种方法会让被禁止的测试项目难以追踪和重新打开。并且，相比于白名单式的 #if CONFIG_IDF_TARGET_xxx ，黑名单式的 #if !disabled 能避免新芯片引入时，这些测试被自动关闭。

但对于用于测试的一些实现， #if CONFIG_IDF_TARGET_xxx 仍可用于给不同芯片版本选择实现代码。测试项目和测试实现区分如下：
- 测试项目：某些你会在一些芯片上执行，而在另外一些上跳过的项目，例如：
  
  有三个测试项目 SD 1-bit 、 SD 4-bit 和 SDSPI 。对于不支持 SD Host 外设的ESP32-S2 芯片，只有 SDSPI 一个项目需要被执行。
- 测试实现：某些代码永远会发生，但采取不同的做法。例如：
  
  ESP8266 芯片没有 SDIO_PKT_LEN 寄存器。如果在测试过程中需要获取从机准备好的数据长度，你可以用 #if CONFIG_IDF_TARGET_ 宏来选择读取该长度的不同方法实现。
  
  但请注意避免使用 #else 宏。这样当新芯片被引入时，测试就会在编译阶段失败，提示维护者去显示选择一个正确的测试实现。

编译单元测试程序¶

按照 esp-idf 顶层目录的 README 文件中的说明进行操作，请确保 IDF_PATH 环境变量已经被设置指向了 esp-idf 的顶层目录。

切换到 tools/unit-test-app 目录下进行配置和编译：

idf.py menuconfig - 配置单元测试程序。
idf.py -T all build - 编译单元测试程序，测试每个组件 test 子目录下的用例。
idf.py -T "xxx yyy" build - 编译单元测试程序，测试指定的组件。
idf.py -T all -E "xxx yyy" build - 编译单元测试程序，测试所有（除开指定）的组件。（例如 idf.py -T all -E "ulp mbedtls" build - 编译所有的单元测试，不包括 ulp 和 mbedtls 组件。）

当编译完成时，它会打印出烧写芯片的指令。您只需要运行 idf.py flash 即可烧写所有编译输出的文件。

您还可以运行 idf.py -T all flash 或者 idf.py -T xxx flash 来编译并烧写，所有需要的文件都会在烧写之前自动重新编译。

使用 menuconfig 可以设置烧写测试程序所使用的串口。

运行单元测试¶

烧写完成后重启 ESP32，它将启动单元测试程序。

当单元测试应用程序空闲时，输入回车键，它会打印出测试菜单，其中包含所有的测试项目。

Here's the test menu, pick your combo:
(1)     "esp_ota_begin() verifies arguments" [ota]
(2)     "esp_ota_get_next_update_partition logic" [ota]
(3)     "Verify bootloader image in flash" [bootloader_support]
(4)     "Verify unit test app image" [bootloader_support]
(5)     "can use new and delete" [cxx]
(6)     "can call virtual functions" [cxx]
(7)     "can use static initializers for non-POD types" [cxx]
(8)     "can use std::vector" [cxx]
(9)     "static initialization guards work as expected" [cxx]
(10)    "global initializers run in the correct order" [cxx]
(11)    "before scheduler has started, static initializers work correctly" [cxx]
(12)    "adc2 work with wifi" [adc]
(13)    "gpio master/slave test example" [ignore][misc][test_env=UT_T2_1][multi_device]
        (1)     "gpio_master_test"
        (2)     "gpio_slave_test"
(14)    "SPI Master clockdiv calculation routines" [spi]
(15)    "SPI Master test" [spi][ignore]
(16)    "SPI Master test, interaction of multiple devs" [spi][ignore]
(17)    "SPI Master no response when switch from host1 (SPI2) to host2 (SPI3)" [spi]
(18)    "SPI Master DMA test, TX and RX in different regions" [spi]
(19)    "SPI Master DMA test: length, start, not aligned" [spi]
(20)    "reset reason check for deepsleep" [esp32][test_env=UT_T2_1][multi_stage]
        (1)     "trigger_deepsleep"
        (2)     "check_deepsleep_reset_reason"

常规测试用例会打印用例名字和描述，主从测试用例还会打印子菜单（已注册的测试函数的名字）。

可以输入以下任意一项来运行测试用例：

引号中的测试用例的名字，运行单个测试用例。
测试用例的序号，运行单个测试用例。
方括号中的模块名字，运行指定模块所有的测试用例。
星号，运行所有测试用例。

[multi_device] 和 [multi_stage] 标签告诉测试运行者该用例是多设备测试还是多阶段测试。这些标签由 TEST_CASE_MULTIPLE_STAGES 和 TEST_CASE_MULTIPLE_DEVICES 宏自动生成。

一旦选择了多设备测试用例，它会打印一个子菜单：

Running gpio master/slave test example...
gpio master/slave test example
        (1)     "gpio_master_test"
        (2)     "gpio_slave_test"

您需要输入数字以选择在 DUT 上运行的测试。

与多设备测试用例相似，多阶段测试用例也会打印子菜单：

Running reset reason check for deepsleep...
reset reason check for deepsleep
        (1)     "trigger_deepsleep"
        (2)     "check_deepsleep_reset_reason"

第一次执行此用例时，输入 1 来运行第一阶段（触发深度睡眠）。在重启 DUT 并再次选择运行此用例后，输入 2 来运行第二阶段。只有在最后一个阶段通过并且之前所有的阶段都成功触发了复位的情况下，该测试才算通过。

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